ESPECTRÓMETROS DE FLUORESCENCIA GENIUS IF

ESPECTRÓMETROS DE FLUORESCENCIA GENIUS IF

Suministros de Laboratorio Kasalab S.A.S le ofrece Espectrómetros de Fluorescencia entre su amplia gama de equipos para laboratorio para la venta en Colombia.

Aplicaciones clave

• Petroquímicos
• polímeros
• metalúrgicos
• aleaciones
• medioambientales
• petróleo
• combustibles
• diésel y líquidos
• minería y geología
• medicina forense
• autenticación y metales preciosos
• farmacéuticos y biomédicos.

Espectrómetro de sobremesa EDXRF con objetivos secundarios

El espectrómetro EDXRF Genius IF (objetivos secundarios) de Xenemetrix ofrece una solución rentable en el mercado actual de análisis elemental.

El analizador proporciona una determinación cualitativa y cuantitativa no destructiva de Carbono (6) a Fermio (100), proporcionando límites de detección de sub-ppm a altas concentraciones porcentuales en peso.

Genius IF tiene componentes potentes que incluyen:

• Un sistema informático totalmente integrado.
• Un detector de deriva Slicon de alta resolución
• Un potente tubo de rayos X con tamaños de punto variables, diseñado para acomodar muestras de varios tamaños
• Ocho objetivos secundarios y ocho filtros de tubo personalizables para la determinación rápida y precisa de trazas y elementos menores

Genius IF también puede funcionar en el modo clásico de excitación directa.

Detector de deriva de silicio (SDD):

El Silicon Drift Detector permite altas tasas de conteo, resolución mejorada, hasta 125eV y tiempo de respuesta rápido, para minimizar el tiempo de inactividad operativo.

SDD LE- Ultra  : la  ventana del detector ultradelgada proporciona un rendimiento superior para el análisis de elementos de baja Z.

Objetivos secundarios:

El Genius IF tiene una geometría patentada única que combina ocho objetivos secundarios, con ocho filtros de tubo personalizables utilizados en modo de excitación directa, para permitir la excitación óptima de todos los elementos que se pueden detectar en EDXRF.

La técnica de objetivo secundario patentada WAG (Wide Angle Geometry) proporciona los mejores resultados para el análisis de elementos mayores, menores y oligoelementos.

El tubo de rayos X excita las líneas K características de un objetivo secundario (un metal puro) que se utilizan para excitar la muestra «monocromáticamente».

Al usar objetivos secundarios, los límites de detección para ciertos elementos pueden reducirse aún más.

Estos límites de detección más bajos hacen que el Genius IF sea adecuado para una gama más amplia de aplicaciones que antes no habían sido accesibles para los instrumentos convencionales ED-XRF, y convierten este instrumento en el analizador elemental más versátil disponible.

• Análisis elemental no destructivo C (6) – Fm (100) desde subppm a concentraciones del 100%.
• La geometría patentada única combina ocho objetivos secundarios y hasta ocho filtros personalizables para la determinación rápida y precisa de trazas y elementos menores.
• Silicon Drift Detector (SDD) permite aplicaciones de velocidad de recuento extremadamente alta con una excelente resolución de energía, hasta 125eV, adecuada tanto para elementos de alta y baja z como para ventana de polímero delgado LE para un mejor análisis de elementos de luz.
• Bandeja de muestra con 8/16 posiciones.
• Fuerte paquete de software analítico.