DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X – MMA
Suministros de Laboratorio Kasalab S.A.S le ofrece difractómetro de rayos x entre su amplia gama de equipos para laboratorio para la venta en Colombia.
MMA – El minimaterial – Analizador
El difractómetro de rayos X Emma (mini analizador de materiales mejorado), aunque de tamaño compacto, ofrece capacidades mejoradas al usuario final.
El diseño original del MMA incluía características tales como geometrías de enfoque y haz paralelo intercambiables, radio variable, provisión para múltiples detectores, ópticas intercambiables y muchas etapas diferentes.
Todas estas características se transfieren a la Emma y, además, la Emma ofrece características mejoradas como: modo
θ-θ: para mantener una plataforma de muestra horizontal, esencial para cámaras de muestra de alta temperatura y no ambientales.
Nuevo controlador de microprocesador avanzado, que ofrece 8 ejes simultáneos y comunicaciones Ethernet. Emma tiene una dirección IP en una red y se puede manejar desde cualquier PC en la red, o incluso desde Internet, sujeto al ancho de banda y otras restricciones de paquetes de datos.
Nuevas etapas de muestra para muestras grandes, pesadas y voluminosas, además de giro, centrifugado capilar y provisión de montaje para unas pocas etapas no ambientales disponibles en PAAR®.
Nuevas ópticas de haz primario, como el espejo de espaciado d graduado confocal para los modos de transmisión y capilar.
Nuevas mejoras de software: incluye un «selector de accesorios» que permite la recalibración instantánea después del intercambio de cualquier componente de la viga para Visual XRD. Traces incluye integraciones con la última versión de las bases de datos ICDD PDF-2 y PDF-4 +.
Se ha trabajado mucho en películas delgadas, análisis de superficies, perfiles de profundidad y reflectometría utilizando un detector de haz paralelo con una rendija de divergencia muy fina. Esto da resultados particularmente impresionantes cuando se utiliza con el exclusivo detector de diodo PIN Si refrigerado por Peltier de estado sólido. Este detector ofrece 3 x – 4 x mejor sensibilidad que el tradicional detector proporcional Xe con un monocromador de cristal de grafito curvo.
▶Software XRD
Software de automatización
Por supuesto, ningún sistema de control de hardware está completo sin un completo software de control y análisis de datos. En el entorno de Microsoft Windows®, existen dos paquetes de software de 32 bits; Visual XRD y trazas.
Visual XRD proporciona control de la función de hardware del módulo de automatización 122E y el sistema XRD y habilita la adquisición de datos. Todos los modos de escaneo y la configuración asistida por computadora están disponibles.


Busque coincidencias para la ID cualitativa de las fases, utilizando la opción DSearch en el software Traces y una base de datos PDF-2 o PDF-4 + de ICDD®.
Análisis cuantitativo utilizando el software cuantitativo de síntesis de patrones de Rietveld SIROQUANT®. Esta aplicación es el análisis de la producción de Anhidrita para la fabricación de Placas de Yeso, rastreando la deshidratación del Yeso en el horno, a través de Bassanite hasta Anyhdrite.

Ajuste de picos y deconvolución

Recopilación de datos

Visualización 3D
Pantalla isométrica de escaneo múltiple


Estrés residual
También está disponible una gama de opciones de detector y monocromador. Hay disponibles paquetes de software complementarios para la integración con Traces. Estos son DSearch, Siroquant, Index y Unit Cell.