ANÁLISIS ELEMENTAL CUANTITATIVO DE MUESTRAS DE CEMENTO

Analizador EDXRF: Genius IF

Equipado con detector por deriva de silicio (SDD)

Resumen

Un conjunto de muestras de cemento se analizó cuantitativamente con el analizador de sobremesa ED-XRF Genius IF marca Xenemetrix, equipado con detector por deriva de silicio. La cuantificación de la composición de los diferentes óxidos se realizó utilizando un método avanzado de parámetros fundamentales con un patrón de referencia comercial de cemento.

Objetivo

Desarrollar un método rápido y robusto para cuantificar el contenido de elementos en diferentes muestras de mezclas.

Antecedentes

ED-XRF es una técnica rápida y no destructiva que puede cuantificar cualquier tipo de muestra sólida, en polvo o líquida en pocos minutos y es el método de mayor en elección la industria de producción de cemento. El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (ED-XRF) desempeña un papel importante para garantizar que se mantenga la calidad constante de las muestras durante todo el proceso de fabricación.

ED-XRF es un método ideal para un análisis elemental rápido y simple con fines de control industrial que ofrece las siguientes ventajas: 1) Preparación de muestras rápida y mínima, 2) Un proceso de análisis automatizado, 3) Exposición limitada o nula a reactivos corrosivos utilizados por otras técnicas analíticas, 4) Facilidad de uso para la operación por personal no técnico o no especializado.

Configuración analítica

Experimental

Se recibieron tres muestras de cemento diferentes en forma de polvo para análisis cuantitativo elemental.

El espectro de cada muestra se realizó en un entorno de vacío para evitar la absorción de la señal de fluorescencia de aire de baja energía en los elementos de bajo peso molecular. El espectro típico de la muestra de cemento se muestra en la figura 1.

Los elementos detectados por análisis cualitativo fueron analizados cuantitativamente en forma de «óxido» utilizando un software especial de parámetros fundamentales para el tipo de muestras donde el 100% de los elementos no son detectados en el espectro XRF como, por ejemplo, C y H.

Se utilizó un patrón de referencia certificado de cemento de NIST para calcular el coeficiente de calibración teórico utilizado en el software de parámetros fundamentales. Los resultados cuantitativos se muestran en la tabla 2.

RESULTADOS

Resultados: análisis cualitativo

Resultados cuantitativos

Conclusiones

Este informe de aplicación muestra lo simple y rápido que se puede realizar un análisis cuantitativo elemental de muestras de cemento utilizando el analizador Genius IF con SDD de la marca Xenemetrix combinado con el software de parámetros fundamentales. En ausencia de estándares de calibración, el software de parámetros fundamentales con un estándar comercial NIST proporciona buenos resultados.